介電損耗測定儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術： 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介電損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術： 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介質損耗測定機作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術： 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介質損耗試驗機作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術： 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介質損耗試驗儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術： 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介質損耗測量儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術： 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介質損耗測定儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術： 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術： 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。