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物體表面導(dǎo)電電阻率測試儀在基本表的基礎(chǔ)上，通過增加控制轉(zhuǎn)換、輸入過流保護(hù)，精密分流器、精密儀表放大器，實(shí)現(xiàn)直流電流（DC-μA.mA）的j確多量程測量。
四探針方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國標(biāo)設(shè)計(jì)制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
高絕緣電阻率測試儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測量儀表，除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外，其他特點(diǎn)與用途見上述專題介紹。
四探針方阻儀 方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.
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